THISYS热导率测量系统

薄样品热导率测量仪

典型的样品是金属，合金和高导电率塑料以及各种填充材料的板材。理想情况下，金属样品的厚度THISYS是薄样品仪器（THI01）和测量与控制单元（MCU）的组合。该范围确定为样品的厚度。使用专门设计的高精度热电堆传感器THI01可以处理通常在200 W / mK的升温速率范围内的薄样品材料（小于0.01至6 mm）。，避免了接触电阻的问题。当根据ASTM D5470的程序失败时，该方法是很好的选择。使用气候室可以覆盖穿透的温度范围，并定期进行测量。THISYS完全由PC控制。对于与低热导率材料一起使用，可以使用其他型号THASYS。

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规格
描述
服务支持
应用
问答
配件

规格

被测者

导热系数,热阻率

THI01规格

测试方法

稀薄样品分析

温度范围

-30至+120°C

精度（λref）（取决于样本）

取决于参考值，通常为+/- 6％@ 20°C，H。λ约为4 10×³m²K/ W

重复性（λref）

+/- 2％@ 20°C

总测量时间

3000 s（典型值）

电源要求（已切换）

15 V，0.8 W（典型值）

加热器（电阻，直径）

50Ω，80毫米

样品要求

H =可达6毫米，A约为70 x 50毫米H.λ= 1至5 10×³m²K/ W

样品表面A：首选

70x110毫米，始终> 50x50毫米

温度感应Pt100

B级，IEC 751：1983

可追溯性

NPL英国国家物理实验室

MCU01规格

差温读数

0-30°C时为0.5μV

Pt100读数

+/- 0.2°C @ 20°C

电压输入/输出

220-110伏交流电/ 15伏直流电

通讯

RS232

描述

锡思

例如ASTM D 5470-01（薄固体固体电绝缘材料的热传递特性的标准测试方法）之类的常用方法对接触电阻高度敏感，不适用。于高导电率材料。THISYS提供了解决此问题的方法。

当安装在绝缘良好的腔体上并以已知的均匀通量加热时，THISYS本质上可测量样品从中心到另一侧的温度梯度。

THI01设计

Hukseflux THI01采用了两个铝制“散热器”。每一个都包含一个加热器，该加热器安装在充满空气的绝缘腔体上。样品安装在型腔上。测量所得的温度梯度（中心边缘）。除新设计之外，技术上的新颖之处还包括薄的热电偶热电堆（Hukseflux专有设计），可进行精确且超灵敏的差分ΔT测量，并且该测量是在甘油浴中进行的。